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测量范围(μm)
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待测基体小曲率半径(mm)
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基体小面积的直径(mm)
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低限分辨力(μm)
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示值误差(μm)
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零点校准
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二点校准
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0~1250
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凸3
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φ5
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0.1
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±(3%h 1.5)
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±[(1%~3%)h 1.5]
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